HLE1-F型電流互感器現(xiàn)場檢定裝置，是在趙修民教授級高級工程師于上世紀80年代提出的“二次側測誤差”，即利用互感器二次壓降測導納即測誤差的基礎上[1]，進一步發(fā)展并首創(chuàng)的“低壓外推法測電流互感器誤差” [2]，通過微機式校驗儀和相應的軟硬件而研制成的。這種新原理電流互感器檢定裝置，基于現(xiàn)場電流互感器與相應的電壓互感器的誤差相同，將被檢電流互感器當作電壓互感器進行檢定和朔源；按電壓互感器在相當于200%~1000%額定電流（電壓）下測被檢互感器的誤差和導納等參數(shù)，再通過在低壓下測導納，外推出在低壓即1%或5%~120%額定電流（電壓）和額定負荷及下限負荷或實際負荷下的誤差。特別適用于現(xiàn)場電流互感器的檢定。 HLE1-F型電流互感器現(xiàn)場檢定裝置是在HLE1-C型基礎上升級而成的，擁有彩色觸摸大屏，

滿足了客戶的需求。

主要技術參數(shù)：

準確級  0.05S

電 流 比  5～25000/5A        5～5000/1A

二次負荷  5～300VA（5A）     5～100 VA（1A）

輸出容量：1～10VA

外形尺寸：485×370×220mm

重量：10kg

內置校驗儀精度：2級（可單獨檢定）

內置標準互感器精度：0.05S級（可單獨檢定）

用途：

檢定1級至0.2S電流互感器